Model815型KVP表及曝光時間表
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Model815型KVP表及曝光時間表
詳細說明
Ecc Model 815是一個專門為個人測量x射線強度的穩(wěn)定，數(shù)字儀器，這個儀器不僅僅用在x射線加速電壓，而且用在測量暴露時間長短上。 兩種功能在儀器上可以kv的形式檢查。
一般操作說明 開關(guān)設置 為了保持操作簡單和直接明了，儀器本身只有兩個開關(guān)在前面板。 開/關(guān) 按鈕 開/關(guān) 按鈕 開/關(guān)按鈕是用來開關(guān)儀器的，開關(guān)是鮮艷的綠色，當儀器開著的時候它的燈將變?yōu)榱辆G，當儀器不用的時候記得關(guān)閉按鈕以便保存電池電量。 調(diào)節(jié)開關(guān) 調(diào)節(jié)開關(guān)有兩個功能： 1， 最初開關(guān)打開，儀器轉(zhuǎn)換到“高分辨率”模式。 2， Kvp讀數(shù)得到后，按下這個調(diào)節(jié)開關(guān)將提供額外信息。 一， 高分辨率/高速度調(diào)節(jié)模式 當儀器第一次打開時，他上面會提示“通用”（normal）或“高速度”（High Speed model）模式，當使用“通常”模式時815表測量ｘ射線時間為100ｍｓ（0.1秒）按下按鈕一次將會使儀器處于“高分辨率”模式（High Resolution）下，ｘ射線暴露取值時間不少于200ms（0.2秒）當要使用高速度模式（High Speed model）時ｘ射線暴露時間至少要100ms（1/10秒）當在高分辨率模式下使用儀表時，暴露時間必須達到至少200ms（0.2秒） 當儀表設置在高分辨率模式下時，他將保持在高分辨模式下知道它被關(guān)閉，要想在高速度或通用模式下使用時，先關(guān)掉電源然后再打開，在關(guān)于使用高分辨率操作的說明在以下的章節(jié)有更詳細的說明。 二， 附加信息顯示 測量過后，kvp值將會顯示。附加信息將會隨著按鈕按下瞬間顯示，儀表將會接著顯示下面的信息： ● 波形類型 ● 暴露時間 同時返回到kvp方式。 波形類型和暴露時間將會依次在1.2秒的時間里顯示，附加信息顯示完畢之后，顯示將會回復到kvp模式，這時表將會為下次讀數(shù)做準備。如果電池電量太低則“電量低”（“Batt low”）信息提示也會在1.2s內(nèi)顯示。 操作 Kvp測量 為了使用Model 815型x射線表進行kvp測量，在很多的情況下它只須打開這個儀器就可以直接測量。但是要把檢測的目標放在燈的中心位置，這樣就可以檢測到暴露值。 為了保證得到精確的讀數(shù)以下幾點要記住。 1、 電流（mA） 當Model 815 所測的目標在合適的位置則它的操作精度減少到70mA，最好的精度是在10mA到50mA之間得到。 2、 高度 對于半波x射線在7到15mA輸出范圍內(nèi)，它的錐形波形應該在高于儀器1/2到2英寸處對于x射線在25到100mA輸出，把儀器放在儀器上方8到16英寸處（1英寸=2.540cm） 3、 校準（collimation） X射線校準要以2″每次地向目標中心移動。 4、 暴露時間 它有兩種模式需要不同的暴露時間。 在“通常”或“高速”模式下暴露時間必須至少在0.1秒（100ms） 儀器可在100ms暴露時間里測到kvp值，為了減少頂部的磨損破裂和在射線下操作。暴露時間大于100ms是沒有必要的，當儀器用于測量暴露時間，稍微長一點的暴露是允許的。 在高分辨率模式下x射線曝光時間至少在0.2s（200ms）儀器在第一個200ms時間之間測得kvp值為了減少頂部的磨損和破裂，在射線下操作。暴露時間大于200ms是沒有必要的。當儀器用于測量曝光時間時，長的暴露時間是允許的。 5、 波形 這個儀器在測量最大值或峰值加速電壓時為了使x射線的穩(wěn)定一般要求x射線暴露時間在30ms時間以外應該再稍有延遲。儀器將會在剩余的時間里顯示x射線暴露的加速電壓的峰值。 6、 初始化讀數(shù) 當x射線檢測器不使用時它會積累電荷，當初始化開關(guān)打開時，儀器需要一條射線束才能準確地工作。 暴露時間測量 815型kvp表在測量暴露時間時kvp值也會被測量到，為了顯示測量后暴露時間按一下白色的按鈕，暴露時間將會在顯示屏上以ms為單位顯示結(jié)果。在“通常”或“高速”模式下，曝光時間小于100ms則不能測量。X射線暴露時間至少在100ms如果要求測量曝光時間在100ms以內(nèi)的請致電去購買8700型數(shù)字x射線表。 當儀器在高分辨率模式時，暴露時間少于200ms是不能被精確地測量到結(jié)果的，x射線暴露時間至少在200ms，我們推薦您使用通用模式對暴露時間進行測量。 更準確的暴露時間在低的kvp/mA設置處得到，很多的高能量x射線曝光時間會因為顯著的衰變使得曝光時間延長，我們主張在50到80kv、25到50mA的范圍內(nèi)測出暴露時間的測量。 高分辨率 K815型表是一個為了減少對x射線頭的損壞而專門設計的精密測量儀器，但是它有三種情況可以在較長時間里得到x射線的精確波形樣圖。 低能量-當kvp的值在60kvp時，精確的讀數(shù)可以通過設置x射線的曝光時間200ms和在高分辨率模式下提高。 一些x射線檢測儀特別是老式的儀器在很長一段時間里才能檢測到x射線的暴露峰值，在通用模式和高速度模式下儀器會在開始測量時間前等待30ms的時間，這個等待時間，在高分辨率模式下加倍，并且實際測量時間也加倍。 一些直流和多相電子束運動非常迅速，然而它有很大的過沖，如果過沖時間大于30ms在高分辨率模式下將會得到真實的kvp最大值的精確讀數(shù)。 以下是儀表顯示的提示信息的具體描述。 Rdy Fast-Unit 在快速模式下讀數(shù) Rdy Hires 準備在高分辨率模式下測量 AlignErr-Alignment Error 把815型表放在x射線處，開始測量 OverRng X射線輸出值太高，減少其值或增加射線源到815表的距離。 Overscale 輸出射線超過815表的測量范圍 Low Batt 電池電量低，這時儀器可以繼續(xù)工作幾小時但是精度會有影響，請快換電池。 濾除因子 815型kvp表有一個為鎢管x射線儀校正的1.5mm厚的鋁制過濾裝置，當x射線有不同的過濾裝置時，請根據(jù)下表提到的數(shù)字在讀kvp值時適當調(diào)整。 Added filtration (增加的過濾器) 60kvp 80kvp 100kvp 120kvp 0.5mm -0.2 -0.5 1.0mm -0.4 -0.9 -1.1 -0.6 例如你的x射線過濾裝置為2.5mm的Al，也就相當于增加的過濾裝置的厚度為1.0mm當讀能量約為60kvp的射線值時將會高出0.8kvp。減去0.8kvp就得到正確的讀數(shù)。 這個值也可以是其中間的某一個。如: 當檢測的射線能量在70kvp時，在0.5mm增加過濾裝置時（共2.0mm）使用校正因子在0.3到0.5之間的值即0.4，也就是說，當測量70kvp能量射線在過濾裝置在0.2mm Al時應在讀數(shù)基礎上減去0.4kvp。 當射線能量在55kvp以下時這個校正因子非常小可以忽略不計。 更多>產(chǎn)品答疑
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