日本日置 IM3570阻抗分析儀
1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)不同測(cè)量條件下的高速檢查
· 1臺(tái)儀器實(shí)現(xiàn)LCR測(cè)量、DCR測(cè)量、掃描測(cè)量等的連續(xù)測(cè)量和高速檢查
· LCR模式下最快1.5ms（1kHz），0.5ms（100kHz）的高速測(cè)量
· 基本精度±0.08%的高精度測(cè)量
· 適用于壓電元件的共振特性檢查、功能性高分子電容的C-D和低ESR測(cè)量，電感器（線圈、變壓器）的DCR和L-Q的測(cè)量
· 分析儀模式下可進(jìn)行掃頻測(cè)量、電平掃描測(cè)量、時(shí)間間隔測(cè)量
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主機(jī)不標(biāo)配治具。請(qǐng)根據(jù)您的需求選擇選件中的治具和探頭。
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基本參數(shù)
日本日置 IM3570阻抗分析儀
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測(cè)量模式
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LCR（LCR測(cè)量），分析儀（掃描測(cè)量），連續(xù)測(cè)量
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測(cè)量參數(shù)
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Z、Y、θ、Rs（ESR）、Rp、Rdc（直流電阻）、X、G、B、Cs、Cp、Ls、Lp、D（tanδ）、Q
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測(cè)量量程
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100mΩ~100MΩ，12檔量程（所有參數(shù)由Z確定）
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顯示范圍
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Z、Y、Rs、Rp、Rdc、X、G、B、Ls、Lp、Cs、Cp：±（0.000000[單位]~9.999999G[單位]，僅Z和Y顯示絕對(duì)值
θ：±（0.000°~999.999°），D：±（0.000000~9.999999）
Q：±（0.00~99999.99），△%：±（0.0000%~999.9999%）
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基本精度
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Z：±0.08%rdg. θ：±0.05°
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測(cè)量頻率
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4Hz~5MHz（10mHz~100Hz步進(jìn)）
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測(cè)量信號(hào)電平
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V模式，CV模式（普通模式）
50mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1MHz以下）
10mV~1Vrms，1mVrms步進(jìn)（1.0001MHz以上）
CC模式（普通模式）
10μA~50mA rms，10μA rms步進(jìn)（1MHz以下）
10μA~10mA rms，10μA rms步進(jìn)（1.0001MHz以上）
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輸出阻抗
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普通模式：100Ω，低阻抗高精度模式：10Ω
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顯示
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彩色TFT5.7英寸，可設(shè)置顯示ON/OFF
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測(cè)量時(shí)間
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0.5ms（100kHz，F(xiàn)AST，顯示OFF，代表值）
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測(cè)量速度
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FAST/MED/SLOW/SLOW2
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其他功能
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DC偏壓測(cè)量，比較功能，面板讀取和保存，存儲(chǔ)功能
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接口
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EXT I/O，RS-232C，GP-IB，USB通訊，U盤(pán)，LAN
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電源
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AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
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打印
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拷貝測(cè)量值或屏幕顯示的要點(diǎn)（需用9442，9593-01和9446）
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接口
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GP-IB，RS-232C，EXT.I/O(所有標(biāo)準(zhǔn))
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電源
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AC90~264V，50/60Hz，最大150VA
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體積和重量
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330W×119H×307Dmm，5.8kg
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附件
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電源線×1
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