日本日置 3504-40C測試儀
封裝機、分選機、電容器的合格與否的判斷和等級分類等
· 高速測量2ms
· 能根據C 和D （損耗系數*2）的測量值，進行被測物合格與否的判斷
· 對應測試線，比側儀功能/觸發輸出功能
· 3504-60/-50用BIN的分選接口進行被測物體的測試
· 3504-40記錄工具，實現高速/低成本的測試
· 查出全機測量中的接觸錯誤，提高成品率
輸入用探頭/測試夾具，實體不附帶。按照測量目的，不同型號有不同的探頭/測試夾具選件
基本參數
日本日置 3504-40C測試儀
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測量參數
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Cs,Cp（電容）,D（損耗系數tanδ）
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測量范圍
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C:0.9400pF～20.0000mF
D:0.00001～1.99000
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基本確度
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（代表值）C:±0.09% rdg. ±10 dgt., D: ±0.0016
※測定確度= 基本確度× B× C× D× E, B～Eは各系數
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測量頻率
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120Hz, 1kHz
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測量信號電平
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恒定電壓模式: 100mV (僅限3504-60) 500 mV, 1 V
測量范圍:
CV 100mV:～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 500mV: ～ 170μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 1.45mF 量程 (測量頻率 120Hz)
CV 1V: ～ 70μF 量程 (測量頻率 1kHz), ～ 700μF 量程 (測量頻率 120Hz)
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輸出電阻
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5Ω（開路端子電壓模式,上述測量范圍以外）
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顯示
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發光二級管 （6行表示，滿量程計算器根據量程而定）
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測量時間
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典型值: 2.0 ms （ 1 kHz, FAST）
※測量時間根據測量頻率、測量速度的不同而不同
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機能
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4端子控制檢測功能（僅限3504-60），BIN測量（除去3504-40），觸發同時輸出，儲存測量條件，比較測量值的場強，平均值功能，Low-C抑制功能，鳴叫功能，控制用輸出入（EXT.I/O），RS-232C界面（標準裝備），GP-IB接口（3504-40除外）
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電源
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AC 100/120/220/240V ±10%（可選擇）, 50/60Hz, 最大110VA
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體積及重量
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260W × 100H × 220Dmm, 3.8kg
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附件
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電源線×1，預備電源保險絲×1
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攜帶盒（1）,背帶（1）
