德國palas 納米粒子測量DEMC 2000 X環(huán)境監(jiān)測氣體檢測儀
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圖1：DEMC 2000 X
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>Palas® DEMC提供兩種版本。具有長分類柱（型號2000）的版本能夠分類尺寸范圍8-1400 nm的顆粒。已經(jīng)集成軟X射線源作為中和器（見圖1）。代替放 射性中和（例如使用Kr-85）的優(yōu)點(diǎn)是在運(yùn)輸過程中無需遵循以下要求。
>DEMC尺寸分類器（符合ISO 15900的規(guī)定）根據(jù)氣溶膠顆粒電遷移率選擇氣溶膠顆粒并將其引導(dǎo)至出口。此外，它還經(jīng)常被稱為DMA。
>Palas® DEMC可普遍連接到其他制造商的CPC和氣溶膠靜電計(jì)。已經(jīng)支持多個計(jì) 數(shù)器（請參見圖4）。我們還將根據(jù)要求將您的計(jì)數(shù)器集成到軟件中。
>與多分散顆粒源*結(jié)合使用時，DEMC用于獲得一定尺寸納米顆粒的極窄（單分散）粒徑分布。DEMC的準(zhǔn)確尺寸測定和可靠性能非常重要，尤其是對于校準(zhǔn)設(shè)置。通過直接在觸摸屏上輸入尺寸（以nm為單位）或使用箭頭按鈕來增大或減小尺寸，可以調(diào)整尺寸大小。
>如果將DEMC用作SMPS系統(tǒng)的組件，它可以連續(xù)且快速地掃描氣溶膠粒徑分布。根據(jù)用戶設(shè)置，每十個通道或最 多64個尺寸通道可在短短30秒內(nèi)執(zhí)行掃描。
>用戶使用圖形用戶界面控制DEMC，該圖形用戶界面提供測量值的線性和對數(shù)顯示以及 集成數(shù)據(jù)記錄器的數(shù)據(jù)管理功能。軟件提供 復(fù)雜的數(shù)據(jù)評估（廣泛的統(tǒng)計(jì)和平均）和導(dǎo)出功能。
DEMC通常作為獨(dú)立設(shè)備運(yùn)行，但也可以使用各種接口（USB、LAN、WLAN、RS-232 / 485）連接到計(jì)算機(jī)或網(wǎng)絡(luò)。
*有關(guān)Palas®氣溶膠發(fā)生器的其他信息可在產(chǎn)品數(shù)據(jù)表中找到，例如DNP 2000、RBG 1000 或AGF 2.0。
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功能
圖2：DEMC的工作原理
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圖2列出了DEMC的工作原理。氣溶膠在進(jìn)入DEMC柱之前先進(jìn)行調(diào)節(jié)。干燥器（例如硅膠、Nafion）除去顆粒中的水分。使用雙極中和器（XRC 370）以確保測定氣溶膠電荷分布。為了去除大于分類器尺寸范圍的顆粒，需要在DEMC的入口處使用撞擊器。
>然后，氣溶膠通過入口導(dǎo)入DEMC柱。沿外部電極的氣溶膠流在此與鞘氣流仔細(xì)合并。重要的是在此處避免任何湍流，以確保層流。電極的表面在光滑度和尺寸公差方面必須具有極高的質(zhì)量。鞘氣是干燥、無顆粒的載氣（通常是空氣），其體積大于連續(xù)在閉環(huán)中循環(huán)的氣溶膠體積。鞘氣與樣品空氣的體積比定義傳遞函數(shù)，從而定義尺寸分類器的分辨率。
>通過施加電壓，在內(nèi)外電極之間會產(chǎn)生一個徑向?qū)ΨQ的電場。內(nèi)電極在末端帶有小縫隙，帶正電。通過平衡每個粒子上的電力及其在電場中的空氣動力學(xué)阻力，帶負(fù)電的粒子被轉(zhuǎn)移到正電極。具有適當(dāng)電遷移率的粒子穿過縫隙并離開DEMC。這些具有相同電遷移率的分類顆粒隨后可用于下游。
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>圖3：Palas® DNP 3000粒子發(fā)生器所產(chǎn)生的氣溶膠粒徑分布
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>如果DEMC被用作SMPS系統(tǒng)的組件，那么電壓（從而電場）將會連續(xù)變化，并且具有不同遷移率的顆粒將會離開DECMC。這些顆粒通過納米顆粒計(jì)數(shù)器，例如凝結(jié)粒子計(jì)數(shù)器（如Palas® UF-CPC）或氣溶膠靜電計(jì)（例如Palas® Charme®）連續(xù)計(jì)數(shù)。經(jīng)過了測試和優(yōu)化的Palas®軟件結(jié)合了數(shù)據(jù)（電壓、顆粒數(shù)等），以便獲取粒徑分布，如圖3所示。
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用戶界面和軟件
圖4：DEMC計(jì)數(shù)器選擇屏幕截圖
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基于持續(xù)的客戶反饋，我們設(shè)計(jì)了良好的用戶界面和軟件，以實(shí)現(xiàn)直觀的操作、實(shí)時控制并測量數(shù)據(jù)和參數(shù)。
此外，該軟件提供了具有集成數(shù)據(jù)記錄器、復(fù)雜導(dǎo)出功能和網(wǎng)絡(luò)支持的數(shù)據(jù)管理。可使用多種可用方法顯示和評估測量數(shù)據(jù)。
DEMC軟件和固件支持其他制造商使用納米計(jì)數(shù)器。圖4列出了一個示例。
德國palas 納米粒子測量DEMC 2000 X環(huán)境監(jiān)測氣體檢測儀:優(yōu)點(diǎn)
- ■ 用戶可以在定義的粒度范圍內(nèi)選擇任何粒度。
- ■ DEMC可以連接到多個計(jì)數(shù)器以構(gòu)成SMPS。
- ■ 連續(xù)和快速掃描測量原理
- ■ 圖形顯示測量值
- ■直觀操作，使用7英寸觸摸屏和GUI
- ■ 集成數(shù)據(jù)記錄儀
- ■ 低維護(hù)
- ■ 功能可靠
- ■減少您的運(yùn)營費(fèi)用
德國palas 納米粒子測量DEMC 2000 X環(huán)境監(jiān)測氣體檢測儀:應(yīng)用領(lǐng)域
- ■ 冷凝粒子計(jì)數(shù)器（CPC）的校準(zhǔn)
- ■ 單分散顆粒源
- ■ SMPS的系統(tǒng)組件
德國palas 納米粒子測量DEMC 2000 X環(huán)境監(jiān)測氣體檢測儀:規(guī)格參數(shù)
| 尺寸通道 | 最高256（128 /衰減） |
| 用戶界面 | 觸摸屏，800•480像素，7英寸 (17.78 厘米) |
| 數(shù)據(jù)記錄儀存儲空間 | 4 GB |
| 軟件 | PD分析 |
| 分類范圍（粒度） | 8 – 1,489 nm |
| 調(diào)整范圍（電壓） | 1 – 10,000 V |
| 體積流量（鞘空氣） | 2.5 – 14 升/分鐘 |
| 沖擊器 | 3種不同截面的噴嘴 |
| 安裝條件 | +5 – +40°C（控制單元） |
| 中和劑 | XRC 370 |
