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德國PALAS 氣溶膠粒徑譜儀 顆粒物監測

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德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統
產品編號: 105154
產品: 德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統 
品牌: 德國palas
型號: Array
規格:
單價: 面議
最小起訂: 1 臺
供貨總量: 1 臺
貨源周期: 現貨
發貨期限: 自買家付款之日起 3 天內發貨
有效期至: 長期有效
最后更新: 2024-04-26 14:39
 
詳細信息

德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統

在生產,運輸和填充粉末、散裝物料、顆粒、顆粒物等時會產生粉塵。這些粉塵可能會對職業安全和生產可靠性產生負面影響。

此外,粉塵會污染環境,并且在喪失生產力方面起著不可忽視的作用。預防我們不希望的粉塵的第一個必要步驟,就是在自由落體和撞擊后測量粉塵的形成。

DustView II全自動粉塵測量系統能夠在自由落體和撞擊之后快速準確地測量所產生的最小粉塵成分。借助DustView II可以快速、清晰和可重復地確定單個粉塵的形成行為,因此非常有可能將該系統應用到粉末質量保證領域。

德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統
DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統
德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統
DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統

德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統 特性優點

  • 有關散裝物料粉塵行為的高信息成分
  • 是在處理粉末貨物時保證質量的理想工具
  • 基于CIPAC MT 171的DustView II
  • 全自動,可再現的測量過程
  • 使用機載PC進行全自動控制和評估,無需外部PC
  • 使用觸摸屏輕松直觀地操作
  • 快速測量過程(40 s)
  • 結構緊湊的便攜式設備
  • 多種測量比較
  • 單獨測量/順序測量
  • 將報告創建為PDF文件,文本文件或打印除了
  • 功能可靠
  • 通過自動偏移調整自我校準
  • 自動內部維護消息
  • 網絡兼容
  • 低維護
  • 減少您的運營費用
  • 應用領域
  • 質量控制
  • 產品開發
  • 過程優化
  • 職業安全

德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統 技術規格

接口 USB,以太網,RS232 / 485,Wi-Fi
測量原理 消光(樣品重量30 g,下降高度750 mm)
數據采集 24位AD轉換器
用戶界面 觸摸屏,800•480像素, 7英寸
電源 115 – 230 V, 50 – 60 Hz
外型尺寸 約500 • 250 • 950 mm
重量 16 千克
操作系統 Windows嵌入式
數據記錄儀存儲 4 GB
安裝條件 +5 – +40 °C

德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統 工作原理

  • 將樣品(通常為30 g的散裝物料)倒入樣品漏斗中。
  • 開始測量:閥門自動打開,樣品落入集塵器。
  • 閥門打開后立即開始測量
  • 粉塵散布在集塵器中。所產生的粉塵會導致激光束衰減(消光測量)。在測量過程中可以觀察到這種衰減,并分類為0-100之間的粉塵值,其中0=沒有因形成粉塵所導致的激光束衰減,即集塵器中僅有很少的粉塵成分,100=激光束由于粉塵形成而完全衰減。
  • 粉塵值隨時間變化,并指示激光束衰減與0值的關系(0=無衰減)。每次測量之前,將會自動確定無粉塵的0值(校準)。
  • 測量結束并自動存儲數據
德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統
DustView II的設計示意圖
確定粉塵數量作為粉塵行為的參考值

粉塵數(STZ)包括最大粉塵值,以及達到最大粉塵值30秒后顯示的粉塵值:

粉塵數(STZ)= 最大值 + 30 s值
德國palas DustView II 全自動粉塵, 粉末,顆粒物成分測量系統
測量結果 兩種散裝物料的比較

由于混凝土樣品具有更細的粒徑分布和特定的物料特征,因此該種樣品明顯比小麥粉樣品產生更多的粉塵。小麥粉中含有顯著更大的顆粒,它們快速沉淀到集塵器底部,而幾乎所有較細的混凝土顆粒即使在30 s之后仍保持懸浮在空氣中。

這些比較可以讓產品輕松和可驗證第在粉塵行為方面獲得優化。

這些測量結果具有很高的高可重現性,可以對散裝物料實現輕松和經濟的生產控制。

固件和軟件

完成測量后,結果將直接顯示在設備上,并按時間順序顯示為數值。自動存儲結果,無需使用額外的PC即可對較早的測量結果進行分析。

系統提供了將報告創建為PDF或文本文件的選項。此外,可以使用打印機立即打印出報告。

除了分析單個測量結果外,DustView II固件還可以對最多10個不同測量值進行比較。上述的報告創建選項在這里也提供。

使用系列測量選項,還可以輕松快速地對多次測量取平均。

還包括用于在外部PC上分析測量結果的評估軟件。

DustView II測量設備是2008 – 2010年期間,在AIF Pro INNO II研究項目中(KF 0295803WZ8) 與Bergischen Universität Wuppertal的Dr. E. Schmidt教授合作開發的。

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