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Palas®通用掃描電遷移率粒徑譜儀（U-SMPS）可提供兩種版本。長分類柱（2050X /2100X /2200X系列）可以確定8至1200nm的粒徑分布。短分類柱（1050X / 1100X/1200X系列）4nm至440nm的粒徑分布。該系列已經集成了X射線源作為中和器，代替放射性中和器（例如使用Kr-85），優點是在運輸過程中無需遵循針對放射源的要求。

Palas® U-SMPS系統包括一個分級器[在ISO15900中定義為電遷移率分級器（DEMC），也稱為差分電遷移氣溶膠分析儀（DMA）]，可根據氣溶膠顆粒的電遷移率選擇相應的氣溶膠顆粒并傳送到出口。

冷凝顆粒計數器（例如UF-CPC）對這些顆粒進行計數。三種可用的UF-CPC型號可在各種濃度范圍內實現很好的單顆粒計數。 Palas使用了由Wiedensohler教授（IfTLeipzig，德國）開發的演算算法，將測量數據轉化為U-SMPS的顆粒分布。

U-SMPS使用圖形化用戶界面并在觸摸屏上進行操作。一次粒子分布掃描可以在短短30秒之內執行，并且每十進制多達128個尺寸通道。在掃描期間，DEMC分級器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計效率更高。集成的數據記錄器允許在設備上設置線性或對數顯示測量值。隨附的評估軟件可提供各種數據評估（各種統計和平均值），以及導出功能。

U-SMPS通常作為獨立設備運行，但也可以連接到計算機或使用各種接口（USB，LAN，WLAN，RS-232 / 485）連接網絡。 Palas® U-SMPS支持DMA，CPC和其他制造商的氣溶膠靜電計。

U-SMPS對顆粒物準確的尺寸確定和可靠性能極其重要，尤其是對于校準來說。所有組件都必須通過嚴格的質量保證測試，并且必須內部組裝。

上圖給出了U-SMPS的工作原理：氣溶膠在進入分級器（DEMC）之前先經過調節。 選配的干燥器（例如硅膠，Nafion）可以去除顆粒中的水分。 雙極中和劑（XRC 049）用于確保氣溶膠電荷分布符合預定。 在DEMC的入口處需要一個撞擊器以去除大于分級器尺寸范圍的顆粒。

氣溶膠通過DEMC柱的進樣口導入，沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流，確保層流。電極的表面必須極其光滑和精準。

該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣（通常為空氣），比氣溶膠的體積大，且在閉環中連續循環。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率，從而決定尺寸分級器的分辨率。

在內部和外部電極之間施加電壓產生徑向對稱電場。內電極帶正電，末端有一個小縫隙。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力，帶負電顆粒轉移到正電極。根據它們的電遷移率，一些顆粒會通過頂部小縫隙離開DEMC。

在操作中，電壓產生的電場持續變化，使得不同遷移率的顆粒離開DEMC，并由納米粒子計數器（例如冷凝粒子計數器）連續測量計數（例如Palas® UF-CPC）

方便實用的軟件提供多數據信息（如電壓，粒子數等）并取得粒徑分布數據。