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公司基本資料信息
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產(chǎn)品描述：
德國EPK MiniTest730N07涂層測厚儀
新的MINITEST 700涂層測厚儀產(chǎn)品線，加強了德國EPK(Elektrophysik)公司在全球涂層測厚市場的領(lǐng)導(dǎo)地位。
-創(chuàng)新的SIDSP(探頭內(nèi)部數(shù)字信號處理)技術(shù)提升了測量的精確性
-測量范圍達15mm，可F、N或FN探頭，提供內(nèi)置或外接探頭
-FN探頭自動識別F(鐵磁性)或N(非磁性)基體，操作方便不易出錯
詳細了解什么是SIDSP技術(shù)
有了新的SIDSP探頭，您可享受到高精確度和高重現(xiàn)性帶給您的優(yōu)勢和便利。新的MINITEST 700系列涂層測厚儀可以解決您所有涂層厚度問題，而產(chǎn)品優(yōu)質(zhì)的外觀是您長期價值和成功的關(guān)鍵，比如汽車、造船、鋼鐵、橋梁建筑，或電鍍等行業(yè)。
增加了測量速度設(shè)置選項
MINITEST 700系列涂層測厚儀可以讓您輕松變換測量需求。在對精度要求不高的條件下，您可以短時間測量大量數(shù)值；也可以只測量少數(shù)幾個數(shù)值，但要求精度很高，您只需選擇相應(yīng)的模式就可以做到。測量值超過您所設(shè)定的極限值時，儀器會報警，保證您即使在快速模式下也不會錯過任何信息。儀器具備聲、光報警，在極限范圍內(nèi)用綠色LED燈表示，超過極限值則用紅色LED燈提示。
德國EPK MiniTest730N07涂層測厚儀
使用簡單方便
MINITEST 700系列涂層測厚儀按照人體工學(xué)設(shè)計，外形很適合人手掌握。為了質(zhì)量控制和檢驗的靈活性，MINITEST 740可以輕易由內(nèi)置探頭變換為外置探頭，方便測量難以到達的部位。MINITEST 700系列涂層測厚儀可以滿足您所有涂層測量需求：如果您想單手測量，可以選擇內(nèi)置探頭的MINITEST 720。MINITEST 730則是外置探頭的。所有型號都配有超大、背光的顯示屏，顯示內(nèi)容可以180度旋轉(zhuǎn)，方便您讀取數(shù)據(jù)。
技術(shù)參數(shù)：
主機
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主機型號 |
MINITEST 720 |
MINITEST 730 |
MINITEST 740 |
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探頭類型 |
內(nèi)置 |
外置 |
內(nèi)置外置可換 |
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數(shù)據(jù)記憶組數(shù) |
10 |
10 |
100 |
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存儲數(shù)據(jù)量 |
最多10,000個 |
最多10,000個 |
最多100,000個 |
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統(tǒng)計值 |
讀值個數(shù)、最小值、最大值、平均值、標(biāo)準(zhǔn)方差、變異系數(shù)、組統(tǒng)計值(標(biāo)準(zhǔn)設(shè)置/自由配置) |
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校準(zhǔn)程序符合國際標(biāo)準(zhǔn)和規(guī)范 |
ISO、SSPC、瑞典標(biāo)準(zhǔn)、澳大利亞標(biāo)準(zhǔn) |
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校準(zhǔn)模式 |
出廠設(shè)置校準(zhǔn)、零點校準(zhǔn)、兩點校準(zhǔn)、三點校準(zhǔn)，使用者可調(diào)節(jié)補償值 |
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極限值監(jiān)控 |
聲、光報警提示超過極限 |
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測量單位 |
μm，mm，cm；mils，inch，thou |
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操作溫度 |
-10℃~60℃ |
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存放溫度 |
-20℃~70℃ |
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數(shù)據(jù)接口 |
IrDA 1.0(紅外接口) |
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電源 |
2節(jié)AA電池 |
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標(biāo)準(zhǔn) |
DIN EN ISO 1461，2064，2178，2360，2808，3882，19840 |
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體積 |
157mm x 75.5mm x 49mm |
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重量 |
約175g |
約210g |
約175g(內(nèi)置)/230g(外置) |
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探頭
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探頭特性 |
F1.5，N07，F(xiàn)N1.5 |
F2 |
F5，N2.5，F(xiàn)N5 |
F15 |
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F |
N |
F |
F |
N |
F |
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測量范圍 |
0~1.5mm |
0~0.7mm |
0~2mm |
0~5mm |
0~2.5mm |
0~15mm |
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使用范圍 |
小工件，薄涂層 |
粗糙表面 |
標(biāo)準(zhǔn)探頭，使用廣泛 |
厚涂層 |
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測量原理 |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
磁感應(yīng) |
電渦流 |
磁感應(yīng) |
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信號處理 |
探頭內(nèi)部32位信號處理(SIDSP) |
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精確度 |
±(1μm+0.75%讀值) |
±(1.5μm+0.75%讀值) |
±(5μm+0.75%讀值) |
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重復(fù)性 |
±(0.5μm+0.5%讀值) |
±(0.8μm+0.5%讀值) |
±(2.5μm+0.5%讀值) |
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低端分辨率 |
0.05μm |
0.1μm |
1μm |
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最小曲率半徑(凸) |
1.0mm |
1.5mm |
5mm |
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最小曲率半徑 |
7.5mm |
10mm |
25mm |
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最小曲率半徑 |
30mm |
30mm |
30mm |
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最小測量面積 |
Φ5mm |
Φ10mm |
Φ25mm |
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最小基體厚度 |
0.3mm |
40μm |
0.5mm |
0.5mm |
40μm |
1mm |
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連續(xù)模式下測量速度 |
每秒20個讀數(shù) |
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單值模式下最大測量速度 |
每分鐘70個讀數(shù) |
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40μm
1mm
連續(xù)模式下測量速度
每秒20個讀數(shù)
單值模式下最大測量速度
每分鐘70個讀數(shù)
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