用于高濃度氣溶膠的 Palas?通用掃描遷移率粒度儀 U-SMPS 有兩個版本。

U-SMPS配備短分類柱（1700 型號），適用于對 2 至 400 nm 范圍內的粒度分布測量。

U-SMPS配備短分類柱（2700 型號），適用于對 8至 1200 nm 范圍內的粒度分布測量。

Palas? U-SMPS 系統包括一個分類器[在 ISO 15900 中定義為差分電遷移率分類器(DEMC)，也稱為差分遷移率分析儀 (DMA)]，其中根據氣溶膠顆粒的電遷移率特性篩選不同尺寸粒子并輸出，然后在下游的Charme?氣溶膠靜電計中測量這些顆粒所帶電荷。（Charme?靜電計—高容量法拉第杯氣溶膠靜電計，用于測量氣溶膠顆粒上的電荷）由于每單位時間（流量）的電荷測量可直接溯源到 SI 單位。因此，該方法主要用作冷凝粒子計數器（例如 CPC）校準。

氣溶膠靜電計的一個主要優點是它能夠進行非常快速的測量。但這種方法需要相當多的電荷才能使用氣溶膠靜電計進行有意義的測量。因此，氣溶膠靜電計只適用于高濃度氣溶膠監測（例如，燃燒過程或氣溶膠發生器的下游），它不適用于低濃度測量（例如在手術室,潔凈車間）。

U-SMPS 使用觸摸屏上的圖形用戶界面進行操作。單次顆粒分布掃描可在短短 30 秒內完成，或者每十倍粒徑多達128 個尺寸通道中執行，在此期間 DEMC 分類器中的電壓連續變化，從而導致每個尺寸通道的計數統計數據更高。集成數據記錄器允許在設備本身上以線性和對數形式顯示測量值。隨附的評估軟件提供各種數據評估和導出功能。

U-SMPS 通常作為獨立設備運行，但也可以使 用各種接口（USB、L AN、WL AN、RS -232/485）連接到計算機或網絡。Palas? U-SMPS 可兼容其他制造商的 DMA、CPC 和氣溶膠靜電計。

上圖給出了U-SMPS 170 0/ 270 0的工作原理：氣溶膠在進入分級器（DEMC）之前先干燥（ 選配干燥 器: 例如硅膠，Nafion管）去除顆粒中的水分。 雙極中和劑（XRC 049）用于確保氣溶膠電荷分布符合預定。 在DEMC的入口處需要一個撞擊器以去除大顆粒物。

氣溶膠通過DEMC柱的進樣口導入，沿著外部電極與鞘氣合并。合并過程要避免湍流，確保層流。電極的表面必須極其光滑和精準。

該鞘氣是干燥的、無顆粒的載氣（通常為空氣），比氣溶膠的體積大，且在閉環中連續循環。鞘氣與樣品空氣的體積比決定了傳遞效率，從而決定尺寸分級器的分辨率。

在內部和外部電極之間施加電壓產生徑向對稱電場。內電極帶正電，末端有一個小縫隙。通過平衡每個粒子上的電場力及其在電場中的空氣動力學阻力，帶負電顆粒轉移到正電極。根據它們的電遷移率，一些顆粒會通過頂部小縫隙離開DEMC。

在操作中，電壓產生的電場持續變化，使得不同遷移率的顆粒離開DEMC，并由粒子計數器連續計數（此處顯示為Palas? Charme?氣溶膠靜電計 Palas? Charme?或Palas? UF-CPC冷凝粒子計數器）。為了組合數據（電壓、電荷數、電荷分布等）并獲得粒度分布，需要進行反向轉換。用于此目的的算法由 IfT（德國萊比錫）的 Wiedensohler 教授開發.