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METTLER梅特勒微量天平XS3DU

型號:XS3DU
訂貨號:
廠家:梅特勒-托利多國際貿(mào)易(上海)有限公司
價格:面議
區(qū)域:北京
    METTLER梅特勒微量天平XS3DU圖1
    METTLER梅特勒微量天平XS3DU
    型號:XS3DU
    顯示屏:彩色觸摸屏
    最大秤量:0.8g|3.1g
    可讀性:0.001mg|0.01mg
    校準方式:內(nèi)部校準

    梅特勒-托利多XS3DU微量天平具有卓越的稱量性能,完全滿足基礎稱量應用:在800 mg的精細量程范圍內(nèi)提供1 μg的可讀性。具有同類產(chǎn)品中最佳的重復性可低至0.8 μg,是獲得理想的稱量可靠性的關鍵,避免不必要的重復測試,顯著地降低了樣品和時間的浪費。

    梅特勒-托利多XS3DU微量天平專為提高稱量效率和可靠性而設計。

    標準配置

    內(nèi)置稱量應用程序

    TouchScreen觸摸屏,方便天平稱量和參數(shù)設置

    SmartTrac彩色動態(tài)圖形顯示器:圖形稱量輔助,跟蹤稱量范圍和公差

    可設置多達10個特定功能的快捷鍵

    可定義3個的信息,用于用戶和樣品標識

    內(nèi)置RS232C和兩個輔助接口;用于連接鍵盤或ErgoSens外接紅外感應器選件,實現(xiàn)無需用手接觸的稱量操作

    第二接口選件插槽;例如LocalCAN,以太網(wǎng),RS232,MiniMettler,藍牙或PS/2等接口選件

    手動開關門的玻璃防風罩

    可更換的顯示屏保護蓋

    下掛鉤稱量

    具有過載保護的稱量傳感器

    顯示多種質(zhì)量單位

    差重稱量應用程序

    計件和百分比稱量應用程序

    統(tǒng)計應用程序

    技術指標

    極限值

    XS3DU 雙量程

    最大稱量值

    3.1 g

    可讀性

    0.01 mg

    最大稱量值

    0.8 g

    可讀性

    0.001 mg

    重復性(sd) - 加載處

    0.006 mg

    - 低加載(加載處)

    0.005 mg (0.2 g)

    重復性(sd) - 加載處

    0.001 mg

    - 低加載(加載處)

    0.0008 mg (0.2 g)

    線性誤差

    0.004 mg

    四角誤差(加載處)1)

    0.005 mg (2 g)

    典型值 4)

    典型重復性(sd)

    0.0005 mg +1.2 x (10–7)?R_gr

    典型微分非線性(sd)

    √2x(10-12)g·R_nt

    典型微分四角誤差(sd)

    1.2 x (10–6)?R_nt

    典型靈敏度偏移(sd)2)

    3 x (10–6)?R_nt

    典型最小稱量值* (@>

    0.1 mg+2.4 x (10–6)?R_gr

    典型穩(wěn)定時間

    < 6 sec

    穩(wěn)定時間

    < 10 sec

    1) 根據(jù)OIML R76

    2) 在10到30°C的溫度范圍內(nèi)

    3) 第一次安裝,使用proFACT校準,靈敏度穩(wěn)定性

    4) 能用于估計不確定度 >* 重復性和最小稱量值可以通過以下措施得以改進:- 選擇適當?shù)姆Q量參數(shù)設置,- 選擇合適的天平放置位置,- 使用較小的去皮容器。

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