A550硅油涂布檢測儀,應用在各種薄膜、淋膜、離型膜等硅油涂布量的測定，各種薄膜生產過程中Si/Al元素等比量的測定，電子產品保護膜硅油殘余量的測定，電子產品硫化物的殘留量的測定當中

通過軟件程序控制，讓 X 射線發生路產生適合的 X 射線去激發測試薄膜材料中的 Si 或者其他元素，被 X 射線激發后變為不穩定態，高能層的電子會躍遷到空穴并同時釋放特定能量被探測器接收，因每個元素都有自已特定的能量特征線，通過探測器的識別，計算機軟件的計算，即可準確識別該元素，并計算出含量。

儀器采用了大面積的晶體硅漂移探測器，分辨率能夠達到 125eV, 能分辨 Al( 鋁 ) 元素和 Si( 硅 ) 元素。