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最新一代X-MaxN大面積SDD能譜儀于2012年8月橫空出世，攜最新硅晶體、最新電路設(shè)計(jì)以及最新技術(shù)帶來新一代能譜儀的全面改觀。

X-MaxN 的晶體尺寸從適合于微米分析的20 mm2到納米材料分析專用150 mm2的共四種可選。尤其是150 mm2為當(dāng)今晶體面積最大的探測器，分析速度至少是普通探測器的兩倍。

總覽

• 探測器晶體尺寸可選，分別為150 mm2，80 mm2，50 mm2，20 mm2
• 無論晶體面積或大或小，X-MaxN 的分辨率始終如一的好——并符合標(biāo)準(zhǔn)ISO15632:2012
• 無論晶體尺寸如何，能譜儀外管尺寸及在電鏡中的位置完全一致，確保相同條件下，計(jì)數(shù)率的增加只源于晶體尺寸的增加
• 強(qiáng)大的低能端分析，所有晶體面積的能譜儀均保證由Be開始
• 與上一代X-Max同，無論SEM或FIB均使用同一界面