單色波長色散X射線熒光 (MWD XRF) 技術采用先進的聚焦單色反射鏡，提高了激發光的強度，與非聚焦和單色光WDXRF技術相比，改善了信噪比以及檢測極限和精確度，降低了儀器對基體效應的敏感度。測量過程中，來自第一塊反射鏡的單色聚焦光束打在樣品上，激發樣品發射出特征熒光X射線。第二塊單色反射鏡篩選出硫的特征X射線，并將其反射聚焦到探測器上。MWD XRF是一種直接測量技術，不需要輔助氣體或樣品轉化。

• ● 內置溫度探頭，可進行溫度補償，測量結果準確反應速度快速穩定。
• ● 校正歷史一直跟隨電極，操作簡便，即插即用應用范圍廣泛。
• ● 采用哈希熒光法測量技術，無需極化，無需校準，測量準確，抗干擾能力強，清洗方便，維護率低，使用壽命長。
• ● 數字化電極，可滿足不同工況的電導測量要求，校準信息存儲于儀器內部，即插即用，測量精度高，重復性好。