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METTLER梅特勒電子分析天平XPE105DR

型號:XPE105DR
訂貨號:
廠家:梅特勒-托利多天平
價格:面議
區域:北京
    METTLER梅特勒電子分析天平XPE105DR圖1
    METTLER梅特勒電子分析天平XPE105DR
    型號:XPE105DR
    最大秤量:120 g/41 g
    可讀性:0.1 mg; 0.01 mg
    校準方式:內部校準

    靜電檢測

    自動檢測任何出現在稱量室中可能導致不合格結果的相關靜電荷。

    輕松的天平管理

    創新性 StatusLightTM 可以快速提供天平狀態信息,實現即時質量控制。采用 Test Manager 確保合規性。

    可輕松升級

    XPE 天平通過自動化粉末和液體加樣開始您的流程,是一個完美的起點。利用 Quantos 加樣模塊輕松升級。

    技術參數:


    大秤量120g/41g
    可讀性0.1mg;0.01mg
    重復性(校驗砝碼)0.015mg(5g)
    最小稱量值 (USP),典型值14 mg
    校正內部/proFACT高級版
    自動最小稱量值(USP),典型值10mg
    秤盤外形尺寸(寬x深)73mmx78mm
    合法交易No
    穩定時間1.5s
    重復性(典型)7μg
    線性誤差(典型值)± 0.1mg
    尺寸 (高x寬)322mmx263mm
    物料號 (s)30087924




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