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METTLER梅特勒分析天平XP205DR
型號：XP205DR
顯示屏：彩色觸摸屏
最大秤量：81g|220g
可讀性： 0.01mg|0.1mg
校準方式：內部校準

最大稱量范圍	81 g / 220 g
可讀性	0.01 mg / 0.1 mg
Minimum weigh (typical acc. USP)	21 mg
Minimum weigh (typical,>	1.4 mg
去皮范圍	0...220 g
重復性	0.015 mg / 0.05 mg
線性	0.15 mg
偏心負載	0.25 mg
內部砝碼校準	proFACT, fully automatic time- and temperature-controlled adjustment
外部砝碼校準	custom weights
Sensitivity offset	2.5x10-6·Rnt
靈敏度（溫度漂移）	1x10-6/°C·Rnt
靈敏度（長時間穩定）	1x10-6/a·Rnt
穩定時間	2.5 s / 1.5 s
接口	RS-232C
尺寸	263x487x322 mm (WxDxH)
防風罩可用高度	235 mm
秤盤尺寸	78 x 73 mm
物料號 (s)	11106027
商業名稱	11106027

XP超越系列至尊型分析天平

梅特勒-托利多的超越系列至尊型分析天平是分析天平領域中的又一里程碑。革命性的創新設計帶來了前所未有的稱量性能并為操作者、樣品稱量和數據管理的安全性設立了新的標準。

紅外感應器(SmartSense)，實現無需用手接觸的稱量操作：開關門、打印、去皮等

彩色智能觸摸屏(SmartScreen)，實現安全，便捷的天平操作

網格秤盤(SmartGrid)，獲得快速、準確稱量結果

水平控制系統(LevelCControl), 在天平偏移水平位置時提供警告提示功能

易巧稱量組件(ErgoClip)，滿足使用不同容器的稱量需求

用戶管理工具(UserManagement)，可以獨立設置操作者的使用權限

MinWeigh最小稱量值功能，提供符合規范的稱量幫助(需要梅特勒-托利多客戶服務工程師現場設置激活)

天平校驗功能(BalancECheck)，自動提示用戶使用外置砝碼校驗天平,確保稱量結果始終準確

ProFACT專業級全自動校準技術，溫度漂移和時間設置觸發的內置砝碼自動校準和全自動線性校準,獲得精確稱量結果

完全可拆卸、清洗的防風罩設計，實現快速清潔

高度可調節的內置防風罩，確保精確稱量結果

可移動、分離的顯示控制終端，方便天平使用

標配RS232通訊接口和一個可用于藍牙、以太網、USB、LocalCan、RS232和PS/2通訊接口選件插槽，方便連接打印機、電腦等外圍設備

顯示屏塑料保護罩，避免散落樣品的腐蝕

6種內置應用稱量程序:簡單稱量、計件稱量、百分比稱量、密度測定、統計功能、公事稱量

最大容量	XP105 DR 分析天平	XP205 分析天平	XP205DR 分析天平	XP204 分析天平	XP504 分析天平	XP504DR 分析天平
最大容量	31.0 g; 120.0 g	220.0 g	81.0 g; 220.0 g	220.0 g	520.0 g	101.0 g; 520.0 g
可讀性	0.01 mg; 0.1 mg	0.01 mg	0.01 mg; 0.1 mg	0.1 mg	0.1 mg	0.1 mg; 1.0 mg
最小稱量值 (USP)，典型值	14.0 mg	21.0 mg	14.0 mg	80.0 mg	80.0 mg	80.0 mg
重復性	0.015 mg; 0.06 mg	0.03 mg	0.015 mg; 0.06 mg	0.07 mg	0.12 mg	0.1 mg; 0.6 mg
線性誤差（典型值）±	0.15 mg	0.1 mg	0.15 mg	0.2 mg	0.4 mg	0.5 mg
尺寸寬度	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm	263.0 mm
尺寸深	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm	487.0 mm
尺寸高度	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm	322.0 mm