層冠分析儀sunscan測葉面積指數(shù)（農(nóng)作物）

根據(jù)冠層吸收的 Beer 法則、Wood 的 SunScan 冠層分析方程以及 Campbell 的橢圓葉面角度分布方程 (Campbell’s Ellipsoidal LAD equations)，使用光量子傳感器來測量、計(jì)算和分析植物冠層截獲和穿透的光合有效輻射及葉面積指數(shù)。Sunscan 系統(tǒng)主要是通過測量冠層截獲的光合有效輻射量(PAR)來計(jì)算葉面積指數(shù)（LAI），
軟件中涉及到的參數(shù)有： 直射和散射入射輻射光、葉面積指數(shù)、葉片透光率、葉傾
角、天頂角、穿透輻射。在這幾個(gè)參數(shù)中，天頂角是根據(jù)當(dāng)?shù)氐臅r(shí)間、經(jīng)度和緯度來
計(jì)算的，葉片透光率和葉傾角是需要用戶自己估計(jì)的，其他的參數(shù)都是直接
測量得出的。