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 廣泛適用于農業、園藝、林業領域有關栽培、育種、 植物群體對比與發展的研究與教學中農作物、果樹、森林內冠層受光狀況的測量和分析。能測算植物冠層的太陽直射光透過率、天空散射光透過率、冠層的消光系數，葉面積指數(LAI)和葉片平均傾角(MTA)等。

植物冠層分析儀型號：SPL-2000

原理和方法

 采用了冠層孔隙率與冠層結構相關的原理。它是根據光線穿過介質減弱的比爾定律，在對植物冠層定義了一系列假設前提的條件下，采用半理論半經驗的公式，通過冠層孔隙率的測定，計算出冠層結構參數。采用的是對冠層下天穹半球圖像分析測量冠層孔隙率的方法。

功能特點

1.非破壞性地測定冠層結構

2.可以測量冠層內外的光合有效輻射（PAR）

3.手持式萬向接頭自動水平調整探頭，

4.隨身攜帶的筆記本計算機可以幫助你正確選點取樣，即時決定圖像的取舍

5.由計算機電池提供電源極其輕便、便于觀測，尤其適合完成野外繁重的觀測任務

6. 圖像分析軟件可以任意定義圖像分析區域（天頂角可分10區，方位角可分10區）。對不同方向的冠層進行區域性分析時，可以任意屏蔽地物景像和不合理的冠層部分（如缺株、邊行問題等）。對不同天頂角起始角和終止角的選擇，可以避開不符合計算該冠層結構參數的冠層孔隙條件 

7.通過USB接口直接將測點圖像顯示在計算機上，可以在野外即時觀察圖像，選擇合理的測點，將圖像存貯。

8.半球圖象上可以設計任何地點、任何時間的太陽視運動軌跡，以及冠層內任意時刻的受光狀況。