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756系列紫外可見分光光度計是我公司生產(chǎn)的自動波長/自動掃描型紫外可見分光光度計系列產(chǎn)品。756系列紫外可見分光光度計，以全新的設(shè)計理念，博采眾家之長。充滿現(xiàn)代化氣息的外形設(shè)計，卓越的數(shù)據(jù)處理和控制功能為該儀器鮮明的特色。廣泛應(yīng)用于廠礦，衛(wèi)生、學(xué)校、環(huán)保及科研實驗室等。我們的目標(biāo)為廣大用戶提供高品質(zhì)的分析儀器。
產(chǎn)品特點
精心設(shè)計的單色器和1200條/mm高質(zhì)量全光柵，具有雜色低，單色性好的特點。
更窄的光譜帶寬可以更精確的測量，更適用于醫(yī)藥領(lǐng)域。
四種測量模式，T、A、C、斜率法，使操作更加簡便。
LCD液晶顯示讀數(shù)方便，大樣品室可使功能擴展。
756，自動波長定位使得測量更加準(zhǔn)確快捷。
756PC，配合掃描軟件，能實現(xiàn)光譜掃描、光度掃描、時間掃描、定量掃描等功能及各種復(fù)雜的數(shù)據(jù)處理。
光學(xué)性能
光度方式：透過率、吸光率、濃度
光度范圍：0-200%T，-0.301-1.999A/0-3A，1-1999C/0-9999C
光度精度：≤±0.3%T
光度重復(fù)性：0.3%T
穩(wěn)定性：±0.002/小時（500nm處、預(yù)熱1小時，限756PC）
基線平直度：±0.002A
光譜掃描
全程（195nm~1100nm）自動掃描，掃描光譜波長任意設(shè)定。
掃描波長間隔0.1nm、0.2nm、0.5nm、1nm、2nm
可選T、A、E模式
重復(fù)掃描次數(shù)、坐標(biāo)參數(shù)設(shè)定
光譜曲線峰、谷值檢出曲線
平滑、微分、積分和算術(shù)計算等數(shù)據(jù)處理
完善的數(shù)據(jù)存儲、導(dǎo)出和打印機制
性能指標(biāo)
|
產(chǎn)品型號 |
756 |
756PC |
|
波長范圍 |
190-1100nm |
190-1100nm |
|
波長精度 |
±0.3nm |
±0.3nm |
|
波長重復(fù)性 |
0.3nm |
0.3nm |
|
光譜帶寬 |
2nm |
2nm |
|
光度精度 |
≤±0.3%T |
≤±0.3%T |
|
光度重復(fù)性 |
0.3%T |
0.3%T |
|
雜散光 |
≤0.3%T |
≤0.3%T |
|
顯示方式 |
128×64LCD |
外接計算機 |
|
操作方式 |
自動波長 |
自動掃描 |
|
操作軟件 |
無 |
配 |
|
掃描軟件 |
無 |
配 |
|
打印機 |
選 |
選 |
|
備注 |
無 |
無 |